ログイン
言語:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. 研究紀要
  2. 第45号

電気的特性によるY,Cu,Niナノ薄膜/SiC接触界面の研究

https://akita.repo.nii.ac.jp/records/950
https://akita.repo.nii.ac.jp/records/950
21fccdda-f0f3-4f9c-833a-49b0ae83a76d
名前 / ファイル ライセンス アクション
KJ00005988348.pdf KJ00005988348.pdf (2.8 MB)
Item type [ELS]紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2017-03-01
タイトル
タイトル 電気的特性によるY,Cu,Niナノ薄膜/SiC接触界面の研究
タイトル
タイトル Interface Properties of Y, Cu, Ni Thin Films / SiC Contacts by Electrical Measurements
言語 en
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
雑誌書誌ID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN10362016
著者 斉藤, 晃一

× 斉藤, 晃一

WEKO 1721

斉藤, 晃一

Search repository
浅野 清光

× 浅野 清光

WEKO 1722

浅野 清光

Search repository
記事種別(日)
内容記述タイプ Other
内容記述 論文
記事種別(英)
内容記述タイプ Other
内容記述 Article
書誌情報 秋田工業高等専門学校研究紀要

巻 45, p. 64-72, 発行日 2010-02-28
表示順
内容記述タイプ Other
内容記述 9
アクセション番号
内容記述タイプ Other
内容記述 KJ00005988348
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2023-05-15 11:26:28.118122
Show All versions

Share

Mendeley Twitter Facebook Print Addthis

Cite as

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX

Confirm


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3