WEKO3
アイテム
電気的特性によるY,Cu,Niナノ薄膜/SiC接触界面の研究
https://akita.repo.nii.ac.jp/records/950
https://akita.repo.nii.ac.jp/records/95021fccdda-f0f3-4f9c-833a-49b0ae83a76d
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
---|---|---|
KJ00005988348.pdf (2.8 MB)
|
|
Item type | [ELS]紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
---|---|---|---|---|---|---|
公開日 | 2017-03-01 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 電気的特性によるY,Cu,Niナノ薄膜/SiC接触界面の研究 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | Interface Properties of Y, Cu, Ni Thin Films / SiC Contacts by Electrical Measurements | |||||
言語 | en | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
雑誌書誌ID | ||||||
収録物識別子タイプ | NCID | |||||
収録物識別子 | AN10362016 | |||||
著者 |
斉藤, 晃一
× 斉藤, 晃一× 浅野 清光 |
|||||
記事種別(日) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 論文 | |||||
記事種別(英) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | Article | |||||
書誌情報 |
秋田工業高等専門学校研究紀要 巻 45, p. 64-72, 発行日 2010-02-28 |
|||||
表示順 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 9 | |||||
アクセション番号 | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | KJ00005988348 |